產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
本高低溫環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備可以用來考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。。嚴(yán)格按GB 10592—89《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》進(jìn)行設(shè)計(jì)制造,可進(jìn)行相應(yīng)高、低溫環(huán)境試驗(yàn)。
更新時(shí)間:2017-12-19
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參 照 標(biāo) 準(zhǔn)
本高低溫環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備滿足GB2423.1-2001試驗(yàn)A《高溫試驗(yàn)方法》; GB2423.2-2001試驗(yàn)B《低溫試驗(yàn)方法》以及其它相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。嚴(yán)格按GB 10592—89《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》進(jìn)行設(shè)計(jì)制造,可進(jìn)行相應(yīng)高、低溫環(huán)境試驗(yàn)。
高低溫環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備主要技術(shù)參數(shù)
l 型號(hào): GDW-250D型
l 工作室尺寸(D×W×H): 500×600×810㎜
l 外型尺寸(D×W×H): 1150×900×1750㎜
l 溫度范圍: -60℃~150℃
l 溫度均勻度: ≤ 2℃ (空載時(shí))
l 溫度波動(dòng)度: ±0.5℃ (空載時(shí))
l 溫度偏差: ≤±2℃
l 升降溫速率: 0.7℃~1.0℃/min
l 時(shí)間設(shè)定范圍: 0~999 小時(shí)